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Dies ist ein Demomodul für die Visualisierung von Defektmessungen bei 10 Wafern zur schnelleren Erfassung von Fehlermustern.

Lassen Sie uns Ihnen ein Modul zeigen, mit dem wir Ihr Problem lösen werden.
Defekt-Legende

Auswertung des gesamten Datensatzes

Streuung der Defekte

Defekte pro Wafer

Häufigkeiten der Defekte